Osamura K., Adam M.I.(malik_adam@petronas.com.my)
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, mechanical properties, tensile tests, numerical analysis, experimental results, electromechanical analysis
Osamura K., Nakao F.(fumi.nakao@materials.mbox.media.kyoto-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, Bi2223, phase formation, measurement technique, synchrotron
Yoshida Y., Osamura K., Matsumoto K., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Horide T.(tomoya.horide@t04.mbox.media.kyota-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, Jc/B curves, anisotropy, pinning centers, experimental results, critical caracteristics
Yoshida Y., Osamura K., Matsumoto K., Horii S., Mukaida M., Ichinose A., Takahara D.(takahara@hightc.mtl.kyoto-u.ac.jp), Horide T.(horide@hightc.mtl.kyoto-u.ac.jp)
Osamura K., Sugano M., Adam M.I.(mdries@hotmail.com), Ishimoto M.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, Bi2223/Ag alloy, Bi2223/Ag alloy, mechanical properties, tensile tests, strain effects, stress effects, composites, experimental results
Osamura K., Sugano M., Ochiai S., Nakamura M., Tanaka M., Adachi T., Hojo M.(hojo_cm@mech.kyoto-u.ac.jp)
Osamura K., Nakamura T., Okada M., Higashikawa K.(kohei@asl.kuee.kyoto-u.ac.jp), Takahashi M.
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Oh S.S., Ha D.W., Morishita K., Ochiai S., Tanaka M., Ishida T., Doko D., Okuda H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes multifilamentary, tensile tests, fracture behavior, numerical analysis
Osamura K., Nakao-Kametani F.(fumi.nakao@materials.mbox.media.kyoto-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, phase formation, heat treatment, microstructure, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Osamura K., Semerad R., Itoh K., Prusseit W., Kiyoshi T., Sugano M.(sugano@kuee.kyoto-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, REBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, tensile tests, fracture behavior, ISD process, buffer layers, mechanical properties, critical current, strain effects, stress effects, microstructure, quench properties, fabrication, experimental results, critical caracteristics
Osamura K., Sugano M., Ochiai S., Nakamura M., Tanaka M., Adachi T., Hojo M.(hojo_cm@mech.kyoto-u.ac.jp)
Osamura K.(kozo.osamura@materials.mbox.media.kyoto-u.ac.jp), Wada N., Ogawa T., Nakao F.
Ключевые слова: HTS, tapes multifilamentary, barriers, ac losses, fabrication
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, mechanical strain, mechanical properties, substrate CeO2/IBAD-YSZ/Ni alloy, ISD process, buffer layers, REBCO, co-evaporation process, protection layer Au, critical current, bending process, stress effects, microstructure, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, current-voltage characteristics, modeling, numerical analysis, critical caracteristics
Osamura K., Nakamura T., Higashikawa K., BALAMURUGAN S.(SARKARAINADAR.Balamurugan@nims.go.jp)
Osamura K., Sugano M.(sugano@hightc.mtl.kyoto-u.ac.jp)
Osamura K., Nakamura T., Muta I., Hoshino T., BALAMURUGAN S.(SARKARAINADAR.Balamurugan@nims.go.jp)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.